Três chineses são presos por fraude em exame TOEIC em Tóquio

Polícia investiga esquema de falsificação de identidade e uso de dispositivos eletrônicos

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Radio Shiga

17 de fevereiro de 2026 8:27 pm

Tóquio, Japão, 17 de fevereiro de 2026, NHK – A Polícia Metropolitana de Tóquio prendeu três cidadãos chineses suspeitos de participação em um esquema organizado de fraude no exame de proficiência em inglês TOEIC, realizado no distrito de Shinjuku em janeiro de 2025. As autoridades acreditam que o grupo atuava de forma coordenada para burlar o sistema de identificação e transmitir respostas a outros candidatos.

Foram detidos Li Zhaobei, Wang Likun e Wu Xiyu, suspeitos de colaborar para que dois deles se passassem por outros candidatos durante a prova.

Segundo os investigadores, Wang, estudante de pós‑graduação da Universidade de Kyoto, e Wu, funcionário de uma empresa em Osaka, teriam se apresentado no local do exame usando nomes de outros chineses na faixa dos vinte e trinta anos. Já Li, empregado em Arakawa, teria permanecido do lado de fora do prédio mantendo contato com Wang.

As autoridades afirmam que Wang já havia sido preso diversas vezes por usar identidades falsas para realizar o TOEIC em Tóquio e em outras localidades. Ele também teria utilizado dispositivos eletrônicos, como um microfone miniaturizado escondido dentro de uma máscara facial, para transmitir respostas a outros candidatos chineses por meio de Li.

Mais de quarenta chineses registrados no mesmo endereço que os suspeitos realizaram o exame no mesmo local, levantando suspeitas de uso indevido do sistema de designação de locais de prova.

A polícia ainda não informou se os três detidos admitiram as acusações. As investigações continuam para determinar a extensão do esquema e identificar outros possíveis envolvidos.